弗萊貝格PIDcon測(cè)試儀用于c-Si 太陽(yáng)能電池和微型 模塊的臺(tái)式PID測(cè)試儀
更新時(shí)間：2023-06-15
弗萊貝格PIDcon測(cè)試儀
用于c-Si 太陽(yáng)能電池和微型 模塊的臺(tái)式PID測(cè)試儀
Freiberg公司與德國(guó)Halle的FraunhoferCSP公司合作開(kāi)發(fā)了一種可作為商業(yè)應(yīng)用的臺(tái)式太陽(yáng)能電池和(單個(gè))組件的潛在誘導(dǎo)退化控制(PIDcon)的測(cè)量解決方案。
弗萊貝格PIDcon測(cè)試儀的特點(diǎn)
+ 符合IEC 62804-TS 標(biāo)準(zhǔn)
+ 易于使用的臺(tái)式設(shè)備
+ 能夠測(cè)量c-Si太陽(yáng)能電池和微型模塊
+無(wú)需氣候室
+ 無(wú)需層壓電池
+ 測(cè)量速度:小時(shí)至數(shù)天
+ 可測(cè)量參數(shù):分流電阻、功率損耗、電導(dǎo)率、泄漏電流、濕度、溫度
+太陽(yáng)能電池可以在以后通過(guò)EL等進(jìn)行研究
+ 基于IP的系統(tǒng)允許遠(yuǎn)程操作和技術(shù)支持從世界任何地方
c-Si太陽(yáng)電池及微型組件的生產(chǎn)與質(zhì)量控制標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)條件
› 電壓: up to 1.5 kV
› 溫度: 85 °C
› 測(cè)試時(shí)間: 4 hours (typical)
› 干燥條件下，不需要水
背景
2010年*報(bào)道了晶硅太陽(yáng)能組件在高壓影響下的故障。受影響的太陽(yáng)能電池顯示分流電阻度降低。這種效應(yīng)被稱為電位誘導(dǎo)降解（PID）。到目前為止，PID測(cè)試主要在模塊上進(jìn)行。模塊制造和氣候室測(cè)試需要大量的材料、設(shè)備和工作費(fèi)用。
PIDcon是與FraunhoferCSP合作開(kāi)發(fā)的，目的是結(jié)合已建立的測(cè)試程序的優(yōu)點(diǎn)：基于模塊的PID測(cè)試等現(xiàn)實(shí)的PID測(cè)試條件，以及較低的時(shí)間和成本支出。
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