弗萊貝格PIDcon測(cè)試儀 用于c-Si 太陽(yáng)能電池和微型 模塊的臺(tái)式PID測(cè)試儀
弗萊貝格X-ray Diffractometer 使用X 射線衍射儀XRD 進(jìn)行晶圓棒，晶圓片及晶錠的生產(chǎn)質(zhì)量控制 晶棒定向 | 晶圓片分析| 石英片 分選 定向： AT | SC | IT | TF | X | Y | Z
弗萊貝格PIDcheck測(cè)試儀 便攜式現(xiàn)場(chǎng)PID（電位誘導(dǎo)降解）測(cè)試儀，適用于不同型號(hào)和尺寸的c-Si模塊，無(wú)需拆卸，在8小時(shí)內(nèi)測(cè)試（測(cè)量時(shí)間將小于8小時(shí)）。PIDcheck是與德國(guó)Fraunhofer CSP Halle公司合作開(kāi)發(fā)的。
弗萊貝格MDPpro晶錠壽命測(cè)量裝置 單晶 、多晶晶圓和晶錠 壽 命測(cè)量裝置 用于常規(guī)質(zhì)量控制和復(fù)雜的材料研發(fā) 硅| 化合物半導(dǎo)體| 氧化物| 寬帶隙材料| 鈣鈦礦| 外延層 [ CdTe | InP | ZnS | SiC | GaAs | GaN | Ge ]
弗萊貝格MDPmap單晶和多晶片壽命測(cè)試設(shè)備 用于*的各種復(fù)雜材料的研究 [CdTe | InP | ZnS | SiC | GaAs | GaN | Ge] 硅|化合物半導(dǎo)體|氧化物|寬帶隙材料|鈣鈦礦|外延
弗萊貝格MDPinline ingot在線硅錠成像設(shè)備 對(duì)高通量要求的PV工廠中多晶和類單晶錠進(jìn)行電學(xué)參數(shù)測(cè)試表征，在1mm分辨率下的總測(cè)量時(shí)間少于一分鐘。
freiberg弗萊貝格MDpicts微瞬態(tài)譜儀微波探測(cè)光誘導(dǎo)電流瞬態(tài)譜儀對(duì)于半導(dǎo)體材料少子壽命，電學(xué)參數(shù)和界面陷阱等進(jìn)行非接觸和非破壞性測(cè)試
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